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理学 ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus III+波长色散型X射线荧光光谱仪X射线管位于分析样品上方,减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。可在慢速和快速
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理学 ZSX Primus III+扫描型XRF 8O-92U元素分析
Rigaku ZSX Primus III +以很少的标准在各种样品类型中快速定量测定从氧气(O)到铀(U)的主要和次要原子元素。高于光学元件的管道,可靠性更高ZSX Primus III +具有
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理学 ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus沿袭了及时提供精确结果的传统,无与伦比的可靠性,灵活性和简便性适合当今实验室的各种挑战。随着理学的经验不断超越用户的期望,ZSX
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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF 微量样品分析
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理学 ZSX Primus 波长色散型XRF Be - U元素分析
ZSX Primus/ZSX Primus IVi采用下照射方式,通过搭载无盖样品盒机构最多可装填104个样品,从而进行多个样品的连续测量。可在观察样品图像的同时进行分析位置的指定和Mapping
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理学 ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪ZSX Primus IV 采用上照射设计,不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。 具有双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF 微量样品分析分析
卓越的轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长
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理学 ZSX Primus IV波长色散型XRF Be-U元素分析
分析范围: Be - U较小的占地面积微区分析下照设计30 μm超薄窗Mapping: 元素分布He 密封:样品室一直在真空环境中ZSX PrimusRigaku ZSX Primus以各种各样的
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理学X射线荧光光谱仪+ZSX Primus III
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理学 ZSX Primus III+ 扫描型X射线荧光光谱仪
合金分析。ZSX Primus III +采用独特的光学配置进行高精度分析,旨在限度地减少样品中非平坦表面引起的误差,如熔融珠和压制颗粒使用EZ-scan软件的SQX基本参数EZ扫描允许用户在未事先
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